Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х кн. Кн. 1. Кн. 2.

Rates:
0
Max bid:
0 UAH
Added:
28.07.2025, 20:05
Watching the lot: 1person
Added:
28.07.2025, 20:05
BookNik108  (15.37)
Ending
05.08.2025, 20:05:00 +5m
Until the end
Current price (0 bids)
290 UAH
Place a bet
UAH

Automatic bargaining
toUAH

Price step from 1 UAH
Loading...
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х кн. Кн. 1. Кн. 2., photo number 2
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х кн. Кн. 1. Кн. 2., photo number 3
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х кн. Кн. 1. Кн. 2., photo number 4
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х кн. Кн. 1. Кн. 2., photo number 5
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х кн. Кн. 1. Кн. 2., photo number 6
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х кн. Кн. 1. Кн. 2., photo number 7
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х кн. Кн. 1. Кн. 2., photo number 8
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х кн. Кн. 1. Кн. 2., photo number 9
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х кн. Кн. 1. Кн. 2., photo number 10
DescriptionAll photos of the lot 9
Період:
Обкладинка:
Основний вид ілюстрацій:
Тема:
Material:
бумага
Condition:
хорошее
Restoration:
нет
Defects:
нет
Location:
Ukraine, Odessa Oblast, Odessa
Payment:
Cash payment, PrivatBank, Western Union
Sending lot to:
Ukraine
Delivery:
Nova Poshta, Ukrposhta, Personal meeting Odessa (according to the current legislation of the seller's country of residence).
Description:
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х кн. Кн. 1. Кн. 2. Пер. с англ. М. Мир, 1984г. 303с.+348с. Твердый переплет, Чуть увеличенный. формат. В монографии известных американских специалистов изложен! стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики при боров, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изй сражения в растровом микроскопе, а также разрешение, информативность режи мов вторичных и отраженных электронов, рентгеновская спектрометрия с диспея сией по энергии и длине волны и качественный рентгеновский микроанализ. Книга представляет интерес для физиков, химиков, материаловедов, геологов биологов и студентов соответствующих специальностей.
Link to the discussion:
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х кн. Кн. 1. Кн. 2., photo number 2
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х кн. Кн. 1. Кн. 2., photo number 3
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х кн. Кн. 1. Кн. 2., photo number 4
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х кн. Кн. 1. Кн. 2., photo number 5
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х кн. Кн. 1. Кн. 2., photo number 6
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х кн. Кн. 1. Кн. 2., photo number 7
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х кн. Кн. 1. Кн. 2., photo number 8
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х кн. Кн. 1. Кн. 2., photo number 9
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х кн. Кн. 1. Кн. 2., photo number 10

Seller's other lots

Comments 0

Search for lots
Scientific, Technical, Special Literature
Search section
Search:
Search results in:
Cookies
We use essential cookies for the proper functioning of the website and additional ones to make interaction with the site as convenient as possible. It helps us personalize your user experience as well as obtain analytical information to improve the service. If you agree to accept all cookies, click "Accept all"; if not, click "Only essential". To learn more, view the Cookie Policy.